Впервые в истории визуализации влияния электрического стробирования на электронную структуру

Впервые в истории визуализации влияния электрического стробирования на электронную структуру

Физики из Уорикского и Вашингтонского университетов разработали методику измерения энергии и импульса электронов в микроэлектронных устройствах, изготовленных из атомарно тонких, так называемых двумерных материалов.
Используя эту информацию, они могут создавать визуальные представления электрических и оптических свойств материалов, чтобы помочь инженерам максимально раскрыть свой потенциал в электронных компонентах. …